Actividad 2.2 Microscopía metalográfica.
UNIVERSIDAD TECNOLÓGICA DE LA COSTA GRANDE DE GUERRERO
Actividad 2.2 Microscopía Metalográfica.
ALUMNO:
JAVIER VEJAR ABARCA
PROFESOR:
ING. LUIS FERNANDO SALGADO MATA
GRUPO:
MI8-1
CARRERA:
INGENIERIA EN MANTENIMIENTO ÁREA INSTALACIONES
MATERIA:
ENSAYOS DESTRUCTIVOS
INTRODUCCIÓN
La metalografía es la ciencia que estudia las características micro estructurales o constitutivas de un metal o aleación relacionándolas con las propiedades físicas, químicas y mecánicas.
Mucha es la información que puede suministrar un examen metalográfico, para ello es necesario obtener muestras que sean representativas y que no presenten alteraciones debidas a la extracción y/o preparación metalográfica.
El análisis metalográfico es el estudio microscópico de las características estructurales de un metal o aleación. Es posible determinar el tamaño de grano, y el tamaño, forma y distribución de varias fases e inclusiones que tienen efecto sobre las propiedades mecánicas del metal.
La metalografía es la preparación de especímenes para realizar una examinación microscópica seguida de un estudio de la microestructura en relación a las propiedades físicas, mecánicas y el método de fabricación de una aleación o material en particular. Esta técnica, como muchas otras, se complementa con otras técnicas, principalmente de microscopia y de análisis de imágenes. Los pasos primordiales de un ensayo metalográfico son: corte, montaje, desbaste, pulido, ataque químico y análisis microestructural.
LINK DE LA PRESENTACIÓN EN CANVA
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OBJETIVOS
Objetivo general:
El objetivo del Análisis Metalográfico es la obtención de información del material por medio de la microestructura de estos, los cuales son posteriormente analizados en un microscopio. ... Corte: Cortamos los materiales con equipos especiales para la obtención de una mejor planicidad en la cara del material a analizar.
Microscopía metalográfica.
- Microscopía Óptica (MO)
- El sistema mecánico está constituido por una serie de piezas en las que instaladas las lentes, que permiten el movimiento para el enfoque. Y una pletina donde se coloca la muestra.
- El sistema óptico comprende un conjunto de lentes, dispuestas de tal manera que producen el aumento de las imágenes que se observan a través de ellas.
- El sistema de iluminación comprende las partes del microscopio que reflejan, transmiten y regulan la cantidad de luz necesaria para efectuar la observación a través del microscopio. Cuando hacemos uso de la luz incidente o reflejada de forma directa se trabaja en MO de Campo Claro.
- Microscopía Electrónica de Barrido (MEB)
FUNDAMENTO
El Microscopio electrónico de barrido o SEM (Scanning Electron Microscope), es aquel que utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen. Tiene una gran profundidad de campo, la cual permite que se enfoque a la vez una gran parte de la muestra. También produce imágenes de alta resolución, que significa que características espacialmente cercanas en la muestra pueden ser examinadas a una alta magnificación. La preparación de las muestras es relativamente fácil pues la mayoría de SEMs sólo requieren que estas sean conductoras.
En el microscopio electrónico de barrido la muestra generalmente es recubierta con una capa de carbón o una capa delgada de un metal como el oro para darle propiedades conductoras a la muestra. Posteriormente es barrida con los electrones acelerados que viajan a través del cañón. Un detector mide la cantidad de electrones enviados que arroja la intensidad de la zona de muestra, siendo capaz de mostrar figuras en tres dimensiones, proyectados en una imagen de TV o una imagen digital. Su resolución está entre 4 y 20 nm, dependiendo del microscopio. Inventado en 1931 por Ernst Ruska, permite una aproximación profunda al mundo atómico. Permite obtener imágenes de gran resolución en materiales pétreos, metálicos y orgánicos. La luz se sustituye por un haz de electrones, las lentes por electroimanes y las muestras se hacen conductoras metalizando su superficie.
EQUIPAMIENTO
Microsopio electrónico de Barrido JEOL JSM-6460LV con detectores de electrones retrodispersados, electrones secundarios y energía dispersiva de Rayos X.
El detector de energía dispersivas X-MaxN es un detector de área que permite realizar análisis de composición químico elemental de una gran variedad de muestras de forma puntual, de área, mapping, etc.
Este equipo permite obtener fotografías por sistema de microscopía electrónica a alto vacío de hasta 300.000 aumentos. Dispone de un sistema de bajo vacío que permite obtener imágenes de muestras poco o no conductoras.
En el servicio se cuenta con un equipo de metalización con Au y C (Emitech 500).
CAMPO DE APLICACIÓN
Fotografiado de muestras a alta resolución.
Análisis de composición química elemetal.
- Microscopía Electrónica de Transmisión (MET)
La adaptación del MET para la observación de muestras biológicas trajo consigo el desarrollo de equipos y accesorios especiales para el procesamiento de las mismas como el ultramicrotomo y la cuchilla de diamante para poder obtener cortes de tejido ultrafinos que soporten el haz de electrones y el alto vacío, así como procedimientos histológicos con fijadores químicos y agentes contrastantes especiales para la preparación de las muestras.
El MET está compuesto por la columna que genera el haz de electrones, un sistema de alto vacío, un sistema de enfriamiento, corrientes de alimentación y un sistema de registro de la imagen. La imagen formada por los electrones es proyectada en dos dimensiones sobre una pantalla fluorescente y puede ser obtenida finalmente a través de una película fotográfica o de una cámara digital en una computadora..
La Unidad de Microscopía Avanzada del Clúster Científico y Tecnológico BioMimic® del INECOL cuenta con un Microscopio Electrónico de Transmisión JEOL JEM 1400Plus. Brinda el Servicio de Microscopía Electrónica de Transmisión y la asesoría técnica para la preparación y estudio de muestras biológicas.
CONCLUSIONES
El ensayo de metalografía nos ayuda a identificar las diferentes estructuras del acero y relacionarlas con las propiedades físicas y mecánicas. Es necesario tener un patrón base (folleto) de las estructuras para poder compararlas y determinar a qué tipo de microestructura corresponde. Para que la prueba se realice de manera adecuada y de resultados correctos es necesario una buena preparación de la probeta.
BIBLIOGRAFÍA
Microscopía Electrónica de Barrido (MEB) | Universidad de Burgos. (s. f.). Parque cientifico tecnologico. Recuperado de: https://www.ubu.es/parque-cientifico-tecnologico/servicios-cientifico-tecnicos/microscopia/microscopia-electronica-de-barrido-meb
PreparaciÃ3n de muestras para el microscopio de barrido : Servicio de MicroscopÃa ElectrÃ3nica : UPV. (s. f.). Servicio de Microscopía Electrónica. Recuperado de: http://www.upv.es/entidades/SME/info/753330normalc.html
Balears, U. D. L. I. (2021, 25 febrero). Microscopía óptica. Servicios Cientificotécnicos. Recuperado de: https://sct.uib.es/Instruments-i-equips-dels-Serveis-Cientificotecnics/Area-de-microscopia-optica-i-electronica/Microscopia-optica.cid108042
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